放射光応用物質科学研究グループ

About关于研究室

放射光を使って、物質の中を視る。

田渕研究室は、放射光を使った計測、特にXAFS法とその測定の研究をしています。
XAFS法は、X線の吸収のしかたに現れる細かな振動を調べる方法で、吸収が階段状に大きく変わる「吸収端」の位置から、試料に含まれる元素がわかります。
名古屋大学シンクロトロン光研究センターに所属し、瀬戸市にある「あいちシンクロトロン光センター」を活かした研究や測定の可能性も追求しています。
2021年から、工学研究科 物質科学専攻の研究グループとして研究と教育に加わっています。

Members教师

田渕研究室のメンバーは、教員、研究員、修士課程・学部の学生で構成されています。截至2026年

• 教授田渕 雅夫

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