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正电子湮灭研究室
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通过正电子湮灭研究材料缺陷和间隙的研究室。
About关于研究室
通过正电子湮灭评价材料内部。
上殿研究室研究利用正电子湮灭现象进行材料评价。
通过测量正电子与电子碰撞并发生湮灭时放出的γ射线的能量分布以及
评价对象涉及金属、
在进行材料评价的同时，
术语说明
- 正电子湮灭
- 正电子与电子碰撞发生湮灭并放出γ射线的现象。
可通过γ射线和正电子的寿命来评价材料 - 空
位型缺陷 - 晶体中因原子缺失而形成的缺陷。
正电子湮灭法是对检测这类缺陷十分灵敏的方法 - 自由体积
- 高分子内部分
子间 空 隙的体积。 与气体透过性关系密切， 可通过正电子寿命测量直接测得
Research研究课题
该研究室利用正电子湮灭推进材料评价，
※示意图氮化物半导体的缺陷评价
氮化物半导体中含有的点缺陷会影响电学特性，
※示意图高分子材料的自由体积评价
用于食品包装材料的高分子，
Members教师
上殿研究室的成员由教师、
- 教授上殿 明良
- 助理教授Selvakumar Sellaiyan
Voices学长学姐的评价
评价基于在读
对于接受采访的学生，
学长学姐的评价
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学长学姐的评价会回答这些问题
- 这个研究室的推荐点是什么?
- 进入后才知道的事情是什么?
- 氛围和老师的性格如何?
- 推荐给什么样的学生?
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本页信息由LabLog运营团队根据研究室的公开信息和采访整理。
关于图片
顶部和研究课题的图片为示意图，
- 顶部图片：《Testing AstroPix, A New Gamma-Ray Detector (SVS14809 - ASTEP Chips3)》 NASA's Scientific Visualization Studio - University of Maryland College Park/Jeanette Kazmierczak, eMITS/Sophia Roberts, eMITS/Scott Wiessinger, Dan Violette, NASA/GSFC/Regina Caputo／公有领域
（裁剪） - 氮化物半导体的缺陷评价：《Blue light emitting diodes over a proto-board》 Gussisaurio／CC BY-SA 3.0（裁剪）
- 高分子材料的自由体积评价：《Polymer chain SPT》 SPT Paul Topham／CC BY-SA 4.0（裁剪）
- 相关研究室
（蛋白質学） ：《CSIRO ScienceImage 1196 Protein crystals》 Health Sciences and Nutrition, CSIRO／CC BY 3.0（裁剪） - 相关研究室
（有機半導体物性工学研究室） ：《Detail of polycrystalline silicon solar cell》 Elvis untot.／CC BY-SA 3.0（裁剪） - 相关研究室
（超伝導物性工学研究室） ：《Magnet levitating on top of superconductor cooled by liquid nitrogen》 Ainur physicist／CC BY 4.0（裁剪） - 相关研究室
（半導体材料） ：《4 inch float zone n-type silicon wafer with amorphous silicon thin film heterojunction structure》 Radiotrefoil／CC BY-SA 4.0（裁剪）
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