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电子自旋共振波谱研究室
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利用电子自旋共振探查半导体器件内部晶体缺陷的研究室。
About关于研究室
用电子自旋找出半导体中的缺陷。
梅田研究室
利用ESR，
这些异常部位会导致器件产生多余的电流和功耗，
该研究室与民营企业及外部研究机构合作，
术语说明
- 电子自旋共振
（ESR） - 观察物质中电子自旋的实验方法。
在研究半导体等材料的晶体缺陷和杂质原子时能发挥强 大作用 - 晶体缺陷
- 晶格中原子排列紊乱的部位。
是决定半导体性质的能级的来源 - EDMR
- 电流检测型ESR。
也能测量微米至纳米尺寸的微小器件的内部 - SiC
- 碳化硅
（silicon carbide）。 作为可替代硅的半导体材料， 正被广泛研究
Research研究课题
该研究室利用电子自旋共振波谱，
※示意图用电子自旋观察缺陷
利用观察物质中电子自旋的ESR，
※示意图探查微小器件的内部
对于常规ESR灵敏度
※示意图SiC功率器件的界面缺陷
SiC功率器件中，
Members教师
梅田研究室的成员由教师，
- 副教授梅田 享英
Voices学长学姐的评价
评价基于在读
对于接受采访的学生，
学长学姐的评价
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计算物性物理学研究室理工学群 应用理工学类基于量子理论的计算机模拟材料设计。本页信息由LabLog运营团队根据研究室的公开信息和采访整理。
关于图片
顶部和研究课题的图片为示意图，
- 顶部图片：《Electron spin resonance spectroscopy》 Bill Branson (Photographer)／公有领域
（裁剪） - 用电子自旋观察缺陷：《Laboratory of electron spectroscopy》 Dominik Bejma, Marta Kowalkińska／CC BY 4.0（裁剪）
- 探查微小器件的内部：《Silicon chip from a computer laser mouse under a microscope 50х》 Original: Alexander Klepnev Derivative work: IamMM／CC BY-SA 4.0（裁剪）
- SiC功率器件的界面缺陷：《Nedap ESD1 - power supply board 1 - ON Semiconductor U》 Raimond Spekking／CC BY-SA 4.0（裁剪）
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（計算物性物理学） ：《Carbon nanotube zigzag povray》 Arnero／公有领域 （裁剪）
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