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電子スピン共鳴分光
電子スピン共鳴で半導体デバイス内部の結晶欠陥を調べる研究室。

About研究室について
電子スピンで、半導体の欠陥を見つける。
梅田研究室
ESRを
異常箇所は
民間企業や
用語の説明
- 電子スピン共鳴
(ESR) - 物質中の
電子スピンを 観察する 実験法。 半導体などの 結晶 欠陥や 不純物原子を 調べる ときに 力を 発揮する - 結晶
欠陥 - 結晶
格子の 原子の 並びが 乱れた 箇所。 半導体の 性質を 決める エネルギー準位の 発生源に なる - EDMR
- 電流検出型の
ESR。 マイクロメートルから ナノメートルサイズの 微小な デバイスの 内部も 測れる - SiC
- 炭化ケイ素
(シリコンカーバイド)。 シリコンに 代わる 半導体材料と して 盛んに 研究されている
Research研究テーマ
この
※イメージ画像電子スピンで欠陥を観察する
物質中の
※イメージ画像微小デバイスの内部を調べる
通常の
※イメージ画像SiCパワーデバイスの界面欠陥
SiCパワーデバイスは、
Members教員
梅田研究室の
- 准教授梅田 享英
Voices先輩の声
評価・クチコミは、
インタビューに
先輩の
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先輩の
- この
研究室の 推しポイントは? - 入ってみて
分かった ことは? - 雰囲気や
先生の 人柄は? - どんな
学生に おすすめ? - 卒業後の
進路は?
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画像について
トップと
- トップの
画像:「Electron spin resonance spectroscopy」 Bill Branson (Photographer)/パブリックドメイン (トリミング) - 電子スピンで
欠陥を 観察する :「Laboratory of electron spectroscopy」 Dominik Bejma, Marta Kowalkińska/CC BY 4.0(トリミング) - 微小デバイスの
内部を 調べる :「Silicon chip from a computer laser mouse under a microscope 50х」 Original: Alexander Klepnev Derivative work: IamMM/CC BY-SA 4.0(トリミング) - SiCパワーデバイスの
界面欠陥:「Nedap ESD1 - power supply board 1 - ON Semiconductor U」 Raimond Spekking/CC BY-SA 4.0(トリミング) - 関連する
研究室 (スピントロニクス研究室) :「Molecular-beam epitaxy system at LAAS 0509」 Guillaume Paumier (user:guillom)/CC BY-SA 3.0(トリミング) - 関連する
研究室 (半導体材料) :「4 inch float zone n-type silicon wafer with amorphous silicon thin film heterojunction structure」 Radiotrefoil/CC BY-SA 4.0(トリミング) - 関連する
研究室 (計算物質科学研究室) :「Carbon nanotube (8,8) 3D spacefill」 Jynto (talk)/CC0(トリミング) - 関連する
研究室 (計算物性物理学) :「Carbon nanotube zigzag povray」 Arnero/パブリックドメイン (トリミング)
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