横田研究室

画像について

トップと研究テーマの画像は内容のイメージで、研究室で撮影したものではありません。ウィキメディア・コモンズの画像をトリミングして使っています。CC BY-SA の画像は、トリミング後の画像も元の画像と同じ CC BY-SA（各行の版）で提供します。

• トップの画像：「Strain gauge」 Cristian V.／CC BY 4.0（トリミング）
• 柔らかいセンサの開発：「Flexible Printed Circuit Board Glued To Support」 Richard Wheeler User:Zephyris／CC BY-SA 3.0（トリミング）
• フレキシブルイメージャー：「CMOS image sensor chip-scale package top」 Phiarc／CC BY-SA 4.0（トリミング）
• デバイスによる生体センシング：「Two fold conductive yarn」 Svasile／CC BY-SA 4.0（トリミング）
• 関連する研究室（高宮研究室）：「TI HC32 Die Shot (4x2-Input OR Gate)」 Cole L／CC BY-SA 2.0（トリミング）
• 関連する研究室（染谷・神保研究室）：「Stretchable Electronics」 Steve Jurvetson from Menlo Park, USA／CC BY 2.0（トリミング）
• 関連する研究室（トープラサートポン研究室）：「Ferroelectric domains at a PZT grain boundary ( )」 Oak Ridge National Laboratory／CC BY 2.0（トリミング）
• 関連する研究室（田中・大矢・中根・アイン研究室）：「Molecular-beam epitaxy system at LAAS 0514」 Guillaume Paumier (user:guillom)／CC BY-SA 3.0（トリミング）